重要利用于光通讯、高功率激光芯片等单芯片表观检测；；；；；；；检测缺点类型：脏污、划痕、崩边、异色、解理纹、膜层脱落等;

AOI-LD420机型是针对激光芯片表观查抄所开发的高精度镜检系统，，，，，，，利用于Chip晶粒造程中的缺点查抄，，，，，，，节俭人力，，，，，，，提升造程的品质不变性。。。。。本系统基于精密运动和减震平台，，，，，，，搭载纳米级光学系统，，，，，，，主题视觉系统选取传统算法和AI算法结合，，，，，，，实现芯片取放，，，，，，，AR面/HR面/P面/N面的查抄，，，，，，，鉴别芯片编号和关联对应输出缺点信息;

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